- 加热炉设备
- 晶体及材料
- 破碎/球磨设备
- 压片设备
- 辊压设备
- 切割设备
- 磨抛设备
- 清洗设备
- 电池研发设备
- 薄膜制备
- 配件
- 其它实验室设备
手持式四探针电阻率测试仪
- 型号：
- M-3
- 产品概述：
- M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
免责声明：
本站产品介绍内容（包括产品图片、产品描述、技术参数等）仅用于宣传用途，仅供参考。由于更新不及时和网站不可预知的BUG可能会造成数据与实物的偏差，请勿复制或者截图。如果您对参数有异议，或者想了解产品详细信息及更多参数，请与本公司销售人员联系。本站提供的信息不构成任何要约或承诺，请勿将此参数用于招标文件或者合同，科晶公司会不定期完善和修改网站任何信息，恕不另行通知，请您谅解。
如果您需要下载产品的电子版技术文档，说明书（在线阅览），装箱单，与售后安装条件等文件，请点击上方的附件下载模块中选取。商城产品仅针对大陆地区客户，购买前请与工作人员沟通，以免给您带来不便。
技术参数产品视频实验案例警示/应用提示配件详情
| 名称
|
手持式四探针电阻率测试仪-M-3 |
| 产品特征
|
|
| 工作电源
|
208-240V，50/60Hz 电池供电：DC3.7V
|
| 探头
|
碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料（详见图1） 球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层（详见图2） 图1图2 图3
|
| 选配
|
可选配快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度 
|
| 测量范围、分辨率
|
电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方块电阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2
|
| 基本误差
|
±1%FSB±2LSB |
| 外形尺寸
|
210mm L × 100mm W × 36mm H |
| 净重
|
0.3kg |
| 质保期
|
一年保质期，终生维护 |
免责声明：
本站产品介绍内容（包括产品图片、产品描述、技术参数等）仅用于宣传用途，仅供参考。由于更新不及时和网站不可预知的BUG可能会造成数据与实物的偏差，请勿复制或者截图。如果您对参数有异议，或者想了解产品详细信息及更多参数，请与本公司销售人员联系。本站提供的信息不构成任何要约或承诺，请勿将此参数用于招标文件或者合同，科晶公司会不定期完善和修改网站任何信息，恕不另行通知，请您谅解。
如果您需要下载产品的电子版技术文档，说明书（在线阅览），装箱单，与售后安装条件等文件，请点击上方的附件下载模块中选取。商城产品仅针对大陆地区客户，购买前请与工作人员沟通，以免给您带来不便。
查看诚信档案
皖公网安备 34012302000974号
